Jeol семинар и демонстрация настольного микроскопа JCM-6000Plus

7 декабря на базе учебного центра ПРОФКОН состоялась семинар-презентация оборудования японской компании Jeol – крупнейшего разработчика и производителя электронных микроскопов и других научных инструментов, промышленного оборудования и медицинской техники. Участниками мероприятия стали представители аналитических и исследовательских лабораторий научных и учебных учреждений, производственных предприятий Беларуси.

ПРОФКОН проводит семинар по оборудованию Jeol

С приветственными словами к слушателям обратились директор ООО ДЖЕОЛ (РУС) Тацуми Хитати и представители нашей компании. В качестве докладчиков выступали инженер по просвечивающим электронным микроскопам и масс-спектрометрам Барашков Михаил и инженер по спектрометрам ядерного магнитного резонанса и растровым электронным микроскопам Кулинич Олег (ООО ДЖЕОЛ (РУС)).

Директор ООО ДЖЕОЛ (РУС) Тацуми Хитати семинар ПРОФКОНМихаил Барашков ООО ДЖЕОЛ (РУС)Кулинич Олег ООО ДЖЕОЛ (РУС)

Программу семинара включала в себя обзоры ассортиментных линеек просвечивающих микроскопов, масс-спектрометров, ЯМР-спектрометров производства Jeol. Крупный блок был отведен презентации настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-6000Plus с демонстрацией его работы.

Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-6000Plus

 

Не секрет, что электронная микроскопия имеет разнообразный диапазон сфер применения на практике за счет возможности исследования наноматериалов и наноструктур. В отличие от оптических микроскопов, сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) позволяют получить информацию не только о топографии поверхности, но и изучить химический состав области исследуемого образца.

Примером использования сканирующего электронного микроскопа является исследование морфологии и химического состава поверхностей полупроводников, металлов и диэлектриков с получением изображения поверхности исследуемых образцов в различных диапазонах увеличений, а также сведений об элементном составе.

Электронная микроскопия часто используется для промышленных целей, для характеристики и анализа органических материалов. Более того СЭМ позволяет достичь наибольшего разрешения из всех доступных методов исследования биологических объектов, таких как клетки, клеточные органеллы, бактерии, вирусы, биогенные макромолекулы.

Проведение фундаментальных и прикладных научных исследований, разработок в различных областях знаний требует высокой информативности применяемого метода и достоверности получаемых результатов исследования.

Являясь представителем компании Jeol Ltd. (Япония) на территории Республики Беларусь команда УП «Профкон» всегда поможет Вам оптимизировать процесс исследования наноструктур различного типа образцов с помощью подбора высококачественного оборудования Jeol.